光纖光譜儀可以測量薄膜厚度
發(fā)布日期:2018-06-28
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光纖光譜儀可以測量薄膜厚度
非常確定的說:可以測量,高利通科技的小型光纖光譜儀可以測量薄膜厚度、以及透過率檢測,熒光的檢測、鏡片檢測。 將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由于光纖的方便性,用戶可以非常靈活的搭建光譜采集系統(tǒng)。光纖光譜儀的優(yōu)勢在于測量系統(tǒng)的模塊化和靈活性。高利通科技的小型光纖光譜儀的測量速度非常快,可以用于在線分析。光纖光譜儀基本配置包括包括一個光柵,一個狹縫,和一個探測器。 光譜儀的性能取決于這些部件的精確組合與校準,校準后光纖光譜儀,原則上這些配件都不能有任何的變動。目前,隨著光譜行業(yè)的快速發(fā)展,光纖光譜儀在國內(nèi)越來越得到認可,其產(chǎn)品性能和質(zhì)量方面跟國外產(chǎn)品相媲美,國產(chǎn)光纖光譜儀正逐漸替代國外產(chǎn)品。